双脉冲测试
双脉冲测试中一个重要目标是，准确测量能量损耗。在示波器中进行准确的功率、能量测试，关键的一步是在电压探头和电流探头之间进行校准，消除时序偏差。
泰克今年推出的双脉冲测试软件（WBG-DPT）在4系、5系和6系示波器上均可使用，该软件包括一种新的专为双脉冲测试设计的消除时序偏差（deskew）的校准技术。这种新的方法与传统方法大有不同，测试速度显著加快，缩短了测试时间。
该技术适用于使用场效应晶体管或IGBT的功率转换器。在本篇文章中，我们将使用FET术语，来使得描述简单明了。
为什么要消除时序偏差（deskew）？
在设计任意一种功率变换器时，都必须尽量减少开关过程中的能量损耗。这种能量损耗可以使用示波器进行测量。一般方法是将同一时刻的电压和电流采样相乘，生成功率波形。
p(t) = v(t)*i(t)
由于功率波形表示随时间变化的能量消耗，因此可以通过对功率波形进行积分来确定能量：
E = ∫p(t)dt
要准确测量能量损耗，电流和电压波形的转换应在时间上保持一致。因此，为了准确进行能量损耗测量，设计者必须矫正测试夹具和探头造成的延迟。
一般来讲，在测试装置上开始任何测量之前都要计算探头之间的偏差。对于低电压应用，可以使用函数发生器和时序偏差校准夹具（deskew夹具）（Tektronix P/N 067-1686-03）进行校准。但是，这种方法对于高电压和大电流应用而言，并非最佳选择。
为了匹配更高功率下低压漏-源极电压（VDS）和漏极电流（ID）的测量，传统技术需要重新布线测试装置。这要求移除负载电感，并用电阻取而代之。接下来进行测量，需要匹配VDS和ID测量值。这个过程可能需要一个小时或更长时间。
图1. 传统的deskew方法是移除负载电感，用电阻替代
一种新的时序偏差校准（deskew）方法
泰克WBG-DPT解决方案是业内首创的基于软件的时序偏差校准（deskew）技术，无需重新布线，只需在进行双脉冲测量后即可执行。在新方法中，采集漏极电流（ID）用作参考波形。在导通期间，利用测试电路的参数模型计算出低压侧VDS对齐波形，其计算后的波形参考ID波形，相对于ID没有时序偏移。消除时序偏差的算法确定计算出的VDS波形与测量出的VDS波形之间的时序偏差。然后将deskew校准的数据修正到VDS测量通道。
图2. 在新方法中，时序偏差校准是在测试后进行的，参数在deskew菜单中设定
时序偏差校准过程
如上所述，时序偏差校准可在测量后进行。在开始双脉冲测试时，无需担心VDS和ID之间的偏差，随后选择deskew设置并提供以下参数：
• 探头阻抗 - 在本文中假定为电流检测电阻(CVR)或分流电阻
• 有效"回路"电感
• 偏置电压（低压侧FET关断时两端的平均VDS）
• 差分阶数（模型用于平滑的滤波器阶数）
图3. 用于建立VDS_low对齐波形的等效电路
该电路假定使用一个电流观察电阻来测量ID
在deskew菜单中输入的参数用于构建VDS对应波形。波形使用基尔霍夫电压定律建立：
